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OmniScan iX UT 多通道超聲波探傷儀的設計目的是對航空航天制造業、汽車工業等的關鍵性工業部件、焊接部件進行高速檢測。可整合到其它檢測系統中使用，通過GE DFO P3TF22、P3TF30、P3TF31和P3TF35驗證。
NORTEC 600便攜式渦流檢測儀匯集了高性能數字電路和渦流探傷方面的技術。NORTEC 600帶有清晰明快的5.7英寸VGA顯示屏，并具有真正的全屏模式，在任何光線條件下都可以呈現可見度*、對比效果渦流信號。
Niton XL2合金分析儀可為制造*提供快速準確的金屬合金驗證。XL2 分析儀采用標準集成式相機準確定位分析區域，可提供鈦到鎳等元素合金材料的即時、無損元素分析以及偶存元素和痕量元素分析。手持式 Niton XL2 分析儀輕巧、耐用，適用范圍日益擴大，包括非金屬鑒別、采礦和勘探以及消費品和電子產品的鉛超標篩選等。
MiniTest 7400 FH測厚儀是便攜式的厚度測量工具，可準確測量厚達10mm的材料。便攜而小巧的外形使其可在生產現場和實驗室進行操作。MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH可在各種非磁性材料上進行簡單，無損，高精度的厚度測量，無論它們的大小、形狀和材質如何。 它還是尖角，小半徑和復雜形狀工件理想的測量工具。
PX-8超聲波測厚儀除了具有PX-7的全部功能外，還增加了存儲功能，可存儲1000個測量數據。儀器還附帶有通訊電纜和軟件，可將數據傳送到計算機上
phoenix x|aminer 入門級X射線檢測系統是一款操作簡便的入門級X射線檢測系統, 具有高性能的微焦點無損檢測設備, 是專為半導體封裝, 電子元器件和電子組裝等領域高分辨率檢測要求而設計. 現配備了新型CMOS平板探測器, 比圖像增強器具有更好的信噪比。
phoenix nanome|x 納米焦點 X射線檢測系統是超高分辨率的納米焦點 X射線檢測系統，設計用于檢測半導體及SMT行業的高品質的組件和互連。 該系統具有性能和多功能性，可用于二維X射線檢測，以及全三維計算機斷層掃描（nano ct）。 有了新的 x|act 軟件包， phoenix nanome|x是可選的系統，用以確保滿足目前和未來的*要求。
Phascan超聲相控陣探傷儀-32/128PR自主研發的高水平便攜式超聲相控陣檢測儀，它因匯聚了獨立的128個硬件發射通道、支持1024個聚焦法則、功能強大的數據分析處理軟件和“超聲模擬計算器”等*技術而在同類產品中具有更強的實用性
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